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錦正茂科技 定制高低溫探針臺(tái)半導(dǎo)體測(cè)試 高低溫探針臺(tái)T8-LY100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80K-420K高低溫測(cè)試環(huán)境，通過(guò)外接不同的電學(xué)測(cè)量?jī)x器，

實(shí)驗(yàn)測(cè)量?jī)x器磁場(chǎng)探針臺(tái)芯片測(cè)試半導(dǎo)體儀器 用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

半導(dǎo)體材料測(cè)量探針臺(tái) 高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境 高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

變溫教學(xué)霍爾測(cè)試系統(tǒng) -磁場(chǎng)大于3900高斯 本儀器用于霍爾效應(yīng)及其應(yīng)用、載流子類(lèi)型、載流子類(lèi)型轉(zhuǎn)變的演示和學(xué)生實(shí)驗(yàn)。